Tid: Tisdagen den 12 november kl 17.15-19.00
Plats: Chalmers materialanalyslaboratorium (CMAL), Fysikgränd 3, entréplan (plan 4). Samling innanför entrén.

Ett materials egenskaper bestäms av dess mikrostruktur, ofta ned på nanometernivå. Kunskaper om mikrostrukturen är därför nödvändig vid utvecklingen av nya material med bättre prestanda. Materialanalys med elektronmikroskopi och atomsondsanalys har bedrivits vid Chalmers Fysikinstitution sedan 1960-talet. På senare år har ansvaret för de alltmer avancerade instrumenten samlats i en egen enhet inom Fysikinstitutionen, CMAL, som också har blivit klassad som Chalmersinfrastruktur och som används av flera institutioner vid högskolan och av externa användare. Instrumentparken har också utökats med bl.a. olika optiska och röntgenbaserade tekniker.

Studiebesöket leds av seniorprofessor Hans-Olof Andrén 0709-52 22 36. Vi ska vi titta på de instrument som används av bl.a. Avdelningen för materialens mikrostruktur: Svepelektronmikroskop (SEM), trans­missions­­elektronmikroskop (TEM), provberedning med fokuserad jonstråle (FIB) och atomsond. Med dessa instrument kan material avbildas och analyseras på atomär nivå.

Efter besöket bjuder Forum för tekniska fysiker på smörgås och dryck. 

Anmälan till Folke Hjalmers senast den 7 november 2019.
E-post: folke.hjalmers@chalmersindustriteknik.se
Mobil: 0705-915602

Välkomna!